使用漆膜厚度測(cè)試儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測(cè)試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層漆膜厚度測(cè)試儀都是基于被測(cè)基體的電、磁特性及與探頭的距離來(lái)測(cè)量覆層厚度的，所以，被測(cè)基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測(cè)量值的可靠性，下面小編就這方面的問題作一下介紹。
　　1.邊界間距
　　如果探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測(cè)量誤差。如須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度，只有預(yù)先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)，才能用漆膜厚度測(cè)試儀測(cè)量。
　　2.基體表面曲率
　　在一個(gè)平直的對(duì)比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值，然后在測(cè)量覆層厚度后減去這個(gè)初始值。或參照下條。
　　3.基體金屬的厚度
　　基體金屬須有一個(gè)給定的厚度，使探頭的電磁場(chǎng)能完全包容在基體金屬中，厚度與測(cè)量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)，在這個(gè)厚度之上剛好可以用漆膜厚度測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量而不用對(duì)測(cè)量值修正。對(duì)于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無(wú)法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對(duì)比來(lái)確定與額定值的差值。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵，便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。
　　反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測(cè)銅箔厚度的漆膜厚度測(cè)試儀，如前所述。
　　4.表面粗糙度和表面清潔度
　　在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值須用漆膜厚度測(cè)試儀進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測(cè)量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5％。而對(duì)于表面雜質(zhì)，則應(yīng)予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。
　　5.探頭測(cè)量板的作用力
　　探頭測(cè)量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測(cè)量值下降。活產(chǎn)生大的波動(dòng)，必要時(shí)，可在兩者之間墊一層硬的，不導(dǎo)電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞４拧?br /> 　　6.外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁
　　應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測(cè)量。殘存的剩磁，根據(jù)漆膜厚度測(cè)試儀的性能可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差，但是如結(jié)構(gòu)鋼，深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
　　7.覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份
　　覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時(shí)，會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對(duì)用作校準(zhǔn)的對(duì)比試樣覆層應(yīng)具有與被測(cè)物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測(cè)試后獲得對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)。
　　以上就是影響漆膜厚度測(cè)試儀測(cè)量值的因素及對(duì)應(yīng)的解決辦法，到這里小編的分享就結(jié)束了，通過這篇文章，不知道大家是否對(duì)漆膜厚度測(cè)試儀有了更深入的了解，若大家還有其它問題，歡迎隨時(shí)聯(lián)系我們進(jìn)行解答。
　　小編：brianna